GAIA 3

Single-pole 60° objective lens ile olağanüstü SEM çözünürlüğü
Tescan patentli Wide Field Optics ile sınıfının en geniş seçenekli görüntüleme modları ( FIELD, RESOLUTION ve DEPTH)
Motorize stage sayesinde üstün numune kontrolü
Manyetik numuneleri gözlemlemek için Field-free modu
200 nA (SEM) ‘e kadar çıkabilen probe akımı
20 ns ‘ye kadar inebilen ultra-kısa dwell süresi ile E-beam litografi
1pA – 50nA arasındaki probe akımına sahip Cobra kolonu ile ultra-yüksek FIB çözünürlüğü
Çeşitli proses parametreleriyle basit ve ileri derece programlanabilen DrawBeam toolbox
Numune yüzeyini modifiye etme ve incelemedeki muazzam yeteneğinin yanısıra, üzerindeki portlar, bütün dedektör ve tekniklerin ortak analitik çalışma alanına odaklanmasını sağlar.