Malzeme araştırmalarında, bilim insanlarının malzeme kristal yapısıyla alakalı birçok analitik soruları mevcuttur. XRD (X-ray diffraction, X ışını kırınımı), kimyasal bileşim, kristal yapı, kristalit büyüklüğü, gerinim (strain), tercihli yönlenme ve tabaka kalınlığı gibi yapısal bilgileri ortaya çıkaran tek laboratuvar tekniğidir. Araştırmacılar bu nedenle geniş ölçekteki malzemeleri (tozdan katıya, ince filmden nanomalzemelere) analiz etmek için XRD kullanmaktadır.
Malzeme karakterizasyon analizlerinizi ve yorumlama kabiliyetinizi geliştirmek mi istiyorsunuz? Daha iyi XRD verilerinin nasıl elde edileceği konusunda size yardımcı olan bu webinar serimize siz de katılın. Kullanıcıların, analiz etmek istedikleri örnek türüne göre uygun örnekleme, örnek hazırlama, XRD cihazı ve konfigürasyon kurulumu konularına hakim olması gerekir. Veri toplama, sadece ilk adımdır. Verilerin hassaslaştırılması ve sonuçlarının anlaşılması, araştırma ve geliştirmenizle ilgili kararlar için çok önemlidir.
Bu webinar boyunca Malvern Panalytical’in aplikasyon uzmanlarından Dr. Daniel Lee, XRD tekniğine giriş sunacaktır. Bu oturumla birlikte, Bragg kanunu teorilerinden X ışını difraktometre fiziklerine, XRD için iyi bir temel oluşturacak bilgileri edineceksiniz.
Kimler katılmalı?
- X ışını kırınımı konusunda bilgisini genişletmek isteyen, malzeme karakterizasyonu analizleriyle uğraşan araştırmacılar
- Pil, toz metalurji, çimento, madencilik ve mineraller, çevre düzenlemesi ve ilaç sanayi gibi konuyla ilgili farklı sektörlerde çalışanlar
- Uygun analitik seçeneklerden sorumlu Ar-Ge ve üretim liderleri
- Yeni malzemeler için yöntem geliştirme veya ürün üretimini desteklemek için köken analizi araştırmalarını desteklemede çalışan bilim adamları
Ne öğreneceğim?
- Malzeme karakterizasyonu için X ışını kırınım analizleri konusunda temeller
- Bragg kanunun esasları
- X ışını difraktometre fizikleri
- Date:
- 22/04/2020
- Time:
-
18:00 - 19:00
- Ülke:
- Australia
- Etkinlik Türü:
- Webinar
- Dil:
- English
