X ışını kırınımı, bilinmeyen kristal fazları tanımlamak için en güçlü araçlardan biridir. Daha fazla malzeme tasarımı veya süreç kontrolünüz hakkında kararlar verme konusunda toplanan XRD sonuçlarına ilişkin pek çok husus ve sonuç vardır. Numunenizde pik kaymaları veya pik genişlemesi fark ederseniz, sonuçlarınız nasıl olurdu? Çok sayıda müşteriyle çalışmamız sırasında, zayıf XRD modellerinin çoğunun, zayıf XRD örnek hazırlığının bir sonucu olduğunu fark ettik. Bu web semineri sırasında Malvern Panalytical'in kıdemli XRD aplikasyon uzmanı Dr. Daniel Lee tarafından paylaşılan pratik ipuçlarını sabırsızlıkla bekliyoruz.

Bu web semineri sırasında, optimum partikül boyutu, toz örneklerinin düzgün şekilde öğütülmesi, sınırlı toz örnekleri gibi durumlar için numune tutucu seçimi ve daha fazlası ile ilgili ipuçlarını paylaşıyor.

Ne öğreneceksiniz?

Faz tayini sırasında nasıl daha iyi XRD verisi elde edileceği

Numunelerin nasıl düzgün şekilde öğütüleceği

Numune tutucu aralığının anlaşılması ve farklı numune türleri için hangilerinin kullanılacağı

Kim katılmalı?

• X-ışını kırınımı bilgisini genişletmek isteyen malzeme karakterizasyonu analiziyle ilgili araştırmacılar

• İlgili endüstriler, batarya, toz metalurjisi, çimento, madencilik ve mineraller, çevre düzenlemesi, farmasötikler ve daha fazlası hakkında araştırma yapanları içerir (ancak bunlarla sınırlı değildir)

• Uygun analitik seçiminden sorumlu AR-GE ve üretim liderleri

• Yeni malzemeler için yöntem geliştirme veya ürün üretimini desteklemek için temel köken analizi araştırmalarını desteklemede çalışan bilim insanları.

 


Date:
04/06/2020
Time:
19:00 - 20:00
Ülke:
Canada
Etkinlik Türü:
Webinar
Dil:
English
Kayıt Ol
Değerlendirme Anketi a