• Yüksek verim, 1 mm'ye kadar geniş alan FIB işlemleri
• Galyum’suz mikro örnek hazırlama
• Ultra yüksek çözünürlük, alansız FEG-SEM görüntüleme ve analizi
• Lens içi SE ve BSE algılama
• Yüksek verimli, çok modelli FIB-SEM tomografisi için çözünürlük iyileştirilmesi
• Kolay gezinme için üstün görüş alanı
• Essence ™ kullanımı kolay, modüler grafik kullanıcı arayüzü