Kategori: FIB - SEM Elektron Mikroskobu

Odaklanmış iyon ışını taramalı elektron mikroskobu (FIB-SEM), bir cihazda iki ışını (elektron ve iyon) birleştirir.SEM sütunu yüksek çözünürlüklü görüntüleme sağlarken, FIB sütunu örneklerin modifikasyonunu sağlar. Bir çift ışınlı FIB-SEM sistemi, bağımsız sistemlerden herhangi biri ile elde edilmesi mümkün olmayan bu tür uygulamaları mümkün

Odaklanmış iyon ışını taramalı elektron mikroskobu (FIB-SEM), bir cihazda iki ışını (elektron ve iyon) birleştirir.
SEM sütunu yüksek çözünürlüklü görüntüleme sağlarken, FIB sütunu örneklerin modifikasyonunu sağlar. Bir çift ışınlı FIB-SEM sistemi, bağımsız sistemlerden herhangi biri ile elde edilmesi mümkün olmayan bu tür uygulamaları mümkün kılan yeni becerilerin dünyasını açar.
Sistem konfigürasyonu elektronve iyonışını odak noktalarının çakıştığı ve bunun sonucu olarak birçok uygulamanın optimize edildiği şekildedir.

SOLARIS

SOLARIS

• Düşük kV'da ışına duyarlı örneklerin UHR görüntülenmesi • Reçineye gömülü ağır metal boyalı örneklerin, düşük kV’da In-beam BSE dedektörü...

SOLARIS X

SOLARIS X

• Gelişmiş paketleme teknolojilerinin fiziksel hasar analizi için,  perdelemesiz geniş alan kesitleme • 1 mm genişliğe kadar geniş alanlı FIB kesitleri...

AMBER

AMBER

• Yüksek hassasiyetli mikro numune hazırlama • Ultra yüksek çözünürlüklü alansız SEM görüntüleme ve nanoanaliz • Genişletilmiş görüş alanı ve kolay...

AMBER X

AMBER X

• Yüksek verim, 1 mm'ye kadar geniş alan FIB işlemleri • Galyum’suz mikro örnek hazırlama • Ultra yüksek çözünürlük, alansız FEG-SEM görüntüleme ve...

AMBER CRYO

AMBER CRYO

• Kriyojenik koşullar altında en zorlu uygulamalarınız için esnek kriyo-FIB-SEM iş istasyonu • Dondurulmuş örneklerden grid üzerindeki lamele kadar, yapay bilgi...