Kategori: X-RAY Floresans Spektrometre (XRF)

 X Işını Floresansı (XRF); katı maddeler, sıvılar, bulamaçlar ve gevşek tozlar dahil olmak üzere çok çeşitli numune tiplerinin kimyasal bileşimini belirlemek için kullanılabilen bir analitik tekniktir. X Işını Floresansı ayrıca tabakaların ve kaplamaların kalınlığını ve bileşimini belirlemek için kullanılır. XRF analizi, hassas ve hızlı numune

 X Işını Floresansı (XRF); katı maddeler, sıvılar, bulamaçlar ve gevşek tozlar dahil olmak üzere çok çeşitli numune tiplerinin kimyasal bileşimini belirlemek için kullanılabilen bir analitik tekniktir. X Işını Floresansı ayrıca tabakaların ve kaplamaların kalınlığını ve bileşimini belirlemek için kullanılır. 
XRF analizi, hassas ve hızlı numune hazırlama ile yüksek hassasiyet ve doğruluğu birleştiren güçlü bir tekniktir. Yüksek verimli endüstriyel ortamlarda kullanım için kolayca otomatikleştirilebilir, ayrıca XRF bir örnek üzerinde hem nitel hem de nicel bilgi sağlar. Bu ‘ne?’ ve ‘ne kadar?’ bilgilerinin basit kombinasyonu, hızlı tarama (yarı niceliksel) analizini de mümkün kılar.

 

EPSILON 1

EPSILON 1

EPSILON 1 özellikle araştırma ve eğitim, madencilik, süt tozu, yağ içindeki katkı maddeleri ve sülfür içeren yakıtlar gibi sektörlerde kullanıma uygundur....

EPSILON 4

EPSILON 4

Esnek Konfigürasyon Epsilon 4, Ar-Ge’den proses kontrolü alanlarına kadar element analizi (F – Am) için 10 W’lık bir versiyonda bulunan esnek bir analitik araçtır....

Zetium

Zetium

Sisteme EDX modülü de eklenebilmektedir. Bu sayede ağır elementlerde hassasiyet artımı ve analizlerde hız artımı sağlanmıştır. EDX modülünde 500 mikron çapa sahip...

Axios Fast

Axios Fast

Axios Fast Panalytical’ın özel ZETA tüp teknolojisi ile donatılmıştır ve bu sayede X-ray tüpünün yaşlanması engellenmiştir ve bu sayede uzun yıllar kalibrasyona...

2830ZT

2830ZT

2830 ZT dalgaboyu dağılımlı X-ray floransan (WDXRF) katman analizörü ile üst düzey film kalınlığı ve kompozisyon ölçümü yapabilir. Yarı iletkenler ve veri...